| SATIE| Les Personnes | Les Doctorants | Dupond Laurent |
| Dupond Laurent | |
| Poste : | doctorant site du CNAM |
| Adresse Postale : | CNAM, Rue Saint Martin |
| 75 003 Paris | |
| France | |
| Numéro de téléphone : | 01 40 27 24 17 |
Atteindre directement
:
Curriculum 
Thèmes de recherche
Travaux et Publications (extraits)
| Soutenance thèse : Juin 2006 |
| Fiabilité et durée de vie des semiconducteurs de puissance : |
|
"Degradation behavior of 600 V-200 A IGBT modules under power cycling and high temperature environment conditions" : - M. BOUARROUDJ - Zoubir Khatir - J.P. OUSTEN - F. BADEL - Laurent Dupond - Stéphane Lefebvre - Microelectronics Reliability, Volume 47, Issues 9-11, Spetember-November 2007, Pages 1719-1724 |
|
"Evaluation de Technologies de Substrats Céramiques sous des Cyclages en Température de Forte Amplitude" : - Laurent Dupond - Zoubir Khatir - Stéphane Lefebvre - Serge Bontemps - - Revue Internationale de Génie Electrique, vol.10 - n°5, 2007, ed. Hermès |
|
"Failure modes on low voltage power MOSFETs under high temperature application" : - Laurent Dupond - Stéphane Lefebvre - M. BOUARROUDJ - Zoubir Khatir - Jean-Claude Faugière - Microelectronics Reliability, Volume 47, Issues 9-11, Septembre 2007, Pages 1767-1772 |
|
"Thermo-mechanical investigations on the effects of the solder meniscus design in solder lifetime" : - M. BOUARROUDJ - Zoubir Khatir - Stéphane Lefebvre - Laurent Dupond - IEEE International Conference on Simulations and Experiments in Microelectronic and Microsystems (IEEE-ESIME), April 2007, London. |
|
“Comparison of stress distributions and failure modes during thermal cycling and power cycling on high power IGBT module” : - M. BOUARROUDJ - Zoubir Khatir - J.P. OUSTEN - F. BADEL - Stéphane Lefebvre - Laurent Dupond - 2007, Sept. 2007, Aalborg, Denmark |
|
“Ageing Test Results of low voltage MOSFET Modules for Electrical Vehicles” : - Laurent Dupond - Stéphane Lefebvre - M. BOUARROUDJ - Zoubir Khatir - Jean-Claude Faugière - - European Power Electronics Conference, EPE 2007, Sept. 2007, Aalborg, Denmark |
|
Effects of metallization thickness of ceramic substrates on the reliability of power assemblies under high temperature cycling : - Laurent Dupond - Zoubir Khatir - Stéphane Lefebvre - Serge Bontemps - Microelectronics Reliability 46, pp 1766-1771, September-November 2006 |
|
« Study of different ceramic substrates technologies under high temperature cycles” : - Laurent Dupond - Zoubir Khatir - Stéphane Lefebvre - Serge Bontemps - Régis Meuret - PCIM’06, Nürnberg, Allemagne, juin 2006 |
|
« Evaluation of Substrate Technologies under High Temperature Cycling ” : - Laurent Dupond - Zoubir Khatir - Stéphane Lefebvre - Serge Bontemps - CIPS 2006, Conference on Integrated Power Electronics Systems, Naples, June 2006 |
|
"Composants à semi-conducteur de puissance pour des applications à haute température de fonctionnement" : - B Allard - G. Coquery - Laurent Dupond - Zoubir Khatir - - Stéphane Lefebvre - Régis Meuret - - - revue électronique J3eA, Volume 4, Hors-série 1, 2005 |
|
Contributions à la connaissance de la fiabilité des composants semiconducteurs de puissance : - G. Coquery - Laurent Dupond - - François Forest - Jean-Jacques Huselstein - - Zoubir Khatir - Stéphane Lefebvre - - Sandrine Moreau - Frédéric Richardeau - Frédéric Saint-Eve - - hors-série "Diagnostic en EEA (journées Electrotechnique 2005)" de la revue électrotechnique J3eA, Volume 4, Hors-Série 4, 2005 |
|
«Electrical characterisations and evaluation of thermo-mechanical stresses of a power module dedicated to high temperature applications” : - Laurent Dupond - Zoubir Khatir - Stéphane Lefebvre - Régis Meuret - Serge Bontemps - EPE 2005, Dresden, Allemagne, septembre 2005 |
|
«Evaluation of thermo-mechanical stresses of a power module dedicated to high temperature applications” : - Laurent Dupond - Zoubir Khatir - Stéphane Lefebvre - Régis Meuret - Serge Bontemps - HITEN 2005, Paris, France, septembre 2005 |
|
Banc de cyclage actif pour l’analyse de la fatigue thermique des brasures de composants IGBTs : - Laurent Dupond - Stéphane Lefebvre - Zoubir Khatir - G. Coquery - Jean-Claude Faugière - L.DUPONT, S.LEFEBVRE, Z.KHATIR, G.COQUERY, JC.FAUGIERES, « Banc de cyclage actif pour l’analyse de la fatigue thermique des brasures de composants IGBTs », Revue REE, N°2 Février 2004, pp.45-51 |
|
Power cycling test circuit for thermal fatigue resistance analysis of solder joints in IGBT : - Laurent Dupond - Stéphane Lefebvre - Zoubir Khatir - Jean-Claude Faugière - L. DUPONT, S. LEFEBVRE,Z. KHATIR, JC. FAUGIERES, “Power cycling test circuit for thermal fatigue resistance analysis of solder joints in IGBT” EPE 2003, Toulouse France, Septembre 2003, sur CDROM |
|
Developpment of a high temperature power module for avionics applications : - Laurent Dupond - Stéphane Lefebvre - Serge Bontemps - Zoubir Khatir - - L. DUPONT, S. LEFEBVRE, S. BONTEMPS, Z. KHATIR, R. MEURET, «Developpment of a high temperature power module for avionics applications, PCIM’04, Nürnberg, Allemagne, Mai 2004, sur CDROM |
|
Characterisation of SiC Schottky diodes and COOlMOSTM transistors at high temperature : - Laurent Dupond - Stéphane Lefebvre - Zoubir Khatir - Serge Bontemps - - L. DUPONT, S. LEFEBVRE, Z. KHATIR, S. BONTEMPS, R. MEURET, «Characterisation of SiC Schottky diodes and COOlMOSTM transistors at high temperature” , IEEE Power Electronics Specialists Conference PESC’04, Aix la Chapelle, Allemagne, juin 2004, sur CDROM |
|
Développement d’un module de puissanse pour tester la fiabilite d’un convertisseur haute température : - Laurent Dupond - Stéphane Lefebvre - Zoubir Khatir - Serge Bontemps - - L. DUPONT, S. LEFEBVRE, Z. KHATIR, S. BONTEMPS, R. MEURET « Développement d’un module de puissanse pour tester la fiabilite d’un convertisseur haute température » EPF Toulouse, septembre 2004 |